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PCB残厚测量仪

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UV测量计

XRF样品杯

编号:XRF样品杯

XRF样品杯,100个/包,两端开口,加固定环。 通用于所有X光谱仪:岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、精工SII、、理学Rigaku、堀场Horiba、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、美国PE公司、美国瓦里安公司、利曼、斯派克、JY、精谱、安捷伦等。 目录编号 描述 外部直径 最大外部直径 高度 孔径 容量,cc X射线设备兼容性…

山度测厚仪LP-D1030

编号:LP-D1030